本說明書實(shí)施例提供一種在IC驗(yàn)證環(huán)境中芯片讀寫性能的自動(dòng)檢測系統(tǒng)和方法，系統(tǒng)包括：用例實(shí)現(xiàn)模塊，用于在回歸測試過程中通過預(yù)設(shè)測試用例控制芯片中每一個(gè)待檢測接口傳輸預(yù)設(shè)量的讀寫數(shù)據(jù)，并觸發(fā)預(yù)設(shè)檢測模塊對(duì)讀寫數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)量的統(tǒng)計(jì)；預(yù)設(shè)測試用例為預(yù)先添加至回歸測試所采用的測試用例集中輔助實(shí)現(xiàn)讀寫性能檢測的測試用例；預(yù)設(shè)檢測模塊，用于在所統(tǒng)計(jì)的數(shù)據(jù)量達(dá)到預(yù)設(shè)量時(shí)，根據(jù)所用的時(shí)間計(jì)算待檢測接口的讀寫性能實(shí)際值；腳本處理模塊，用于在回歸測試結(jié)束后根據(jù)待檢測接口對(duì)應(yīng)的讀寫性能實(shí)際值，確定對(duì)應(yīng)的讀寫性能檢測結(jié)果，并將讀寫性能檢測結(jié)果發(fā)送至打印接口進(jìn)行打印。本發(fā)明可以快速定位到問題，提高效率。