本發(fā)明提供了一種小型變溫樣品臺裝置,可放置于常規(guī)小樣品倉中,通用于光譜儀、X射線衍射儀、成像儀器及其它等多種有變溫需求的檢測場景,實(shí)現(xiàn)樣品的寬溫區(qū)高低溫變溫性能檢測。所述裝置包括隔熱系統(tǒng)和變溫系統(tǒng),采用加熱片升溫,實(shí)現(xiàn)樣品的高溫性能檢測;采用冷媒降溫,實(shí)現(xiàn)樣品的低溫性能檢測,在不開啟變溫系統(tǒng)時,也能進(jìn)行樣品的常溫性能檢測,變溫范圍大;并可滿足多種樣品材料的測試環(huán)境需求,可在空氣、保護(hù)性氣體或真空環(huán)境中進(jìn)行樣品的高低溫變溫特性檢測;所述裝置還包括電極系統(tǒng),可以檢測導(dǎo)電型待測樣品的變溫電學(xué)相關(guān)特性,滿足各類材料的測試需求;設(shè)計輕巧,結(jié)構(gòu)緊湊,方便耦合各種測試儀器完成樣品變溫相關(guān)性能測試,應(yīng)用前景廣泛。
聲明:
“一種小型變溫樣品臺裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)