本發(fā)明公開一種用于檢測微型LED
芯片(1)質(zhì)量的分檢裝置及分檢方法,微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及多個LED晶片(11);多個LED晶片(11)具有共同的第一負電極(12),且分別具有獨立的第一正電極(13);分檢裝置包括電性能檢測單元(2),電性能檢測單元(2)包括檢測單元主體(21)以及一個第二正電極(22)和一個第二負電極(23)。通過將多個LED晶片(11)以共陰極和共陽極的方式電連接到電性能檢測單元(2)上,當電性能檢測單元(2)與外界電源連接時,多個LED晶片(11)相當于并聯(lián)形式連接到電源上,從而同時檢測出多個LED晶片(11)的發(fā)光情況,完成分區(qū)域檢測,較以往單顆點亮提高了效率,微型LED得以實現(xiàn)快速質(zhì)量檢測。
聲明:
“一種用于檢測微型LED芯片質(zhì)量的分檢裝置及分檢方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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