本發(fā)明提供的一種基于電子元件性能數(shù)據(jù)的元件篩選方法及系統(tǒng)，涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域。在本發(fā)明中，基于獲取的性能檢測(cè)設(shè)備對(duì)多個(gè)待檢測(cè)的電子元件分別進(jìn)行的多次性能檢測(cè)處理得到的多組性能檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理，得到每一個(gè)電子元件的性能是否存在異常的解析結(jié)果，其中，每一組性能檢測(cè)數(shù)據(jù)包括對(duì)應(yīng)的一個(gè)電子元件通過(guò)進(jìn)行多次性能檢測(cè)得到的多條性能檢測(cè)數(shù)據(jù)；基于電子元件對(duì)應(yīng)的解析結(jié)果確定是否將電子元件作為篩選出的目標(biāo)電子元件；若電子元件對(duì)應(yīng)的解析結(jié)果為電子元件的性能不存在異常，則將電子元件作為篩選出的目標(biāo)電子元件。采用以上步驟對(duì)電子元件進(jìn)行篩選，可以提高對(duì)電子元件進(jìn)行篩選的可靠性。