本發(fā)明屬于柔性電子產(chǎn)品檢測領(lǐng)域,具體涉及一種柔性電子卷繞檢測設(shè)備及方法,可以自動完成柔性電子薄膜電路器件的導電性能檢測和表觀印刷質(zhì)量檢測,并對不合格的器件進行打點標記,自動完成放卷和收卷。該設(shè)備包括傳動輥組件、放卷組件、收卷組件,還包括傳感器組件、導電性能檢測組件和標記組件,均設(shè)置在柔性電子薄膜電路器件的進給路徑上;傳感器組件用于檢測待檢測的柔性電子薄膜電路器件是否傳送至導電性能檢測組件的正下方;導電性能檢測組件包括第一XY平面調(diào)節(jié)支架、第一Z向伸縮機構(gòu)和導電性能檢測頭,導電性能檢測頭上安裝探針,檢測柔性電子薄膜電路器件的導電性能;標記組件對導電性能不合格的柔性電子薄膜電路器件進行打點標記。
聲明:
“一種柔性電子卷繞檢測設(shè)備及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)