本實(shí)用新型涉及觸摸屏檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域,公開了一種觸摸屏畫面缺陷及電學(xué)性能檢測(cè)設(shè)備,包括置物臺(tái)、畫面缺陷檢測(cè)裝置及TP檢測(cè)裝置,畫面缺陷檢測(cè)裝置包括光源組件、屏幕點(diǎn)亮組件及成像組件,光源組件朝向容置區(qū)設(shè)置,屏幕點(diǎn)亮組件包括圖像信號(hào)發(fā)生器及導(dǎo)電探針,圖像信號(hào)發(fā)生器與導(dǎo)電探針電連接,導(dǎo)電探針用于與觸摸屏產(chǎn)品的金手指電連接,成像組件朝向容置區(qū)設(shè)置,成像組件與圖像處理主板電連接;TP檢測(cè)裝置包括TP檢測(cè)主板及檢測(cè)探針,TP檢測(cè)主板與檢測(cè)探針電連接,檢測(cè)探針用于與觸摸屏產(chǎn)品的金手指電連接。本實(shí)用新型能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)觸摸屏畫面缺陷及電學(xué)性能的共同檢測(cè),從而提高生產(chǎn)效率及減少設(shè)備占地面積。
聲明:
“觸摸屏畫面缺陷及電學(xué)性能檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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