本發(fā)明涉及電器元器件檢測技術(shù)領(lǐng)域,且公開了一種電器元器件老化性能檢測用的檢測裝置及系統(tǒng),包括檢測外殼,所述檢測外殼內(nèi)側(cè)的底部固定連接有四個固定塊,所述固定塊的頂部設(shè)有電路板,所述電路板頂部的四角均活動套接有六角螺栓,所述電路板頂部靠近正面的一側(cè)固定連接有第三三極管,所述電路板頂部靠近正面位于所述第三三極管的另一側(cè)固定連接有第二三極管,所述電路板頂部靠近正面位于所述第二三極管的另一側(cè)固定連接有第一三極管,所述電路板頂部的另一側(cè)固定連接有電源;本發(fā)明通過設(shè)有發(fā)光二極管,有利于使用者在進(jìn)行檢測時只需通過觀察發(fā)光二極管是否發(fā)光即可檢測電子元器件是否正常工作,便于使用者快速的檢測電子元器件。
聲明:
“一種電器元器件老化性能檢測用的檢測裝置及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)