本發(fā)明公開基于光纖傳感器的電抗器耐低溫性能檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法。該系統(tǒng)包括:低溫環(huán)境箱,其用于模擬極端低溫環(huán)境;光纖傳感器測(cè)量裝置,其用于經(jīng)通信光纖獲取預(yù)埋在干式空心電抗器的匝間的光纖傳感器檢測(cè)到的繞組形變或繞組處的溫度;電流發(fā)生器,其用于與匝間預(yù)埋有光纖傳感器的干式空心電抗器連接,對(duì)干式空心電抗器進(jìn)行通流試驗(yàn);其中,匝間預(yù)埋有光纖傳感器的干式空心電抗器放置在低溫環(huán)境箱時(shí),電流發(fā)生器向低溫環(huán)境下的干式空心電抗器提供穩(wěn)定電流,光纖傳感器測(cè)量裝置獲取干式空心電抗器在低溫環(huán)境下通流試驗(yàn)時(shí)的匝間形變數(shù)據(jù)或溫度數(shù)據(jù)。該檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)結(jié)果精度高,可靠性高。
聲明:
“基于光纖傳感器的電抗器耐低溫性能檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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