本發(fā)明公開了一種半導體照明產(chǎn)品散熱性能檢測裝置,包括檢測裝置,所述檢測裝置包括以下步驟:步驟1:提供待檢測設備,置于檢測平臺上;步驟2:在高溫狀態(tài)下通電30分鐘,檢測30分鐘內(nèi)待檢測設備的溫度線性變化斜率K1;步驟3:待步驟2中的待檢測設備冷卻至常溫狀態(tài),再次通電30分鐘,檢測30分鐘內(nèi)待檢測設備的溫度線性變化斜率K2;步驟4:將K1,K2與閾值范圍H比較,超出H范圍標記為不合格,不超出H范圍標記為合格。所述閾值范圍H根據(jù)實際待測器件的大小種類具體設定。所述檢測平臺底部設置溫度探測器和控制器,所述溫度探測器探測檢測平臺的溫度并發(fā)送至控制器,控制器接收溫度信息并根據(jù)預設的閾值范圍H判斷。
聲明:
“一種半導體照明產(chǎn)品散熱性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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