本實(shí)用新型公開了一種電子元件性能檢測(cè)裝置,第一出口槽和第二出口槽末端均連接有運(yùn)輸裝置,門型支架頂部設(shè)有電動(dòng)推桿一,安裝板底部設(shè)有檢測(cè)裝置,檢測(cè)裝置通過固定螺絲固定安裝在安裝板上,檢測(cè)裝置包括支撐板、導(dǎo)電筆,導(dǎo)電筆個(gè)數(shù)為兩個(gè),門型支架側(cè)壁上設(shè)有用于指示檢測(cè)結(jié)果的指示燈一,兩個(gè)導(dǎo)電筆與指示燈一電性相連,支撐板內(nèi)對(duì)應(yīng)于導(dǎo)電筆頂端設(shè)有空腔,空腔內(nèi)部設(shè)有按壓指示裝置,本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于:設(shè)有導(dǎo)電筆與指示燈,檢測(cè)電子元件是否合格,通過電動(dòng)推桿二和電動(dòng)推桿三推動(dòng)使合格與不合格的電子元件分別從第一出口槽和第二出口槽內(nèi)滑出,操作簡(jiǎn)單,節(jié)省人工;設(shè)有按壓指示裝置,保證導(dǎo)電筆按壓到位。
聲明:
“一種電子元件性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)