本發(fā)明公開了一種光學(xué)材料性能檢測(cè)裝置,屬于材料性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,能夠解決現(xiàn)有裝置不能提供光學(xué)材料二階非線性光學(xué)信號(hào)檢測(cè)區(qū)域處準(zhǔn)確可靠的粒度信息,從而不能準(zhǔn)確反映光學(xué)材料的二階非線性光學(xué)性能的問題。所述檢測(cè)裝置包括:樣品臺(tái),用于放置待測(cè)樣品;圖像采集模塊,設(shè)置在樣品臺(tái)的上方,用于采集待測(cè)樣品的待測(cè)區(qū)域的圖像;處理模塊,用于根據(jù)待測(cè)區(qū)域的圖像獲取待測(cè)區(qū)域中待測(cè)樣品的粒度信息。本發(fā)明用于光學(xué)材料的二階非線性光學(xué)性能分析。
聲明:
“一種光學(xué)材料性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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