本發(fā)明公開(kāi)了一種用于退偏器性能檢測(cè)的方法及裝置。檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)為：點(diǎn)狀光源發(fā)出的光經(jīng)反射準(zhǔn)直鏡反射，再依次通過(guò)起偏器、擴(kuò)束系統(tǒng)、待檢測(cè)退偏器、縮束系統(tǒng)、檢偏器后，經(jīng)聚焦鏡聚焦，在探測(cè)器上記錄得到的光信號(hào)。擴(kuò)束系統(tǒng)和縮束系統(tǒng)采用伽利略或開(kāi)普勒望遠(yuǎn)結(jié)構(gòu)，包括兩塊離軸拋物面鏡；擴(kuò)束系統(tǒng)和縮束系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)參數(shù)相同，使用狀態(tài)為結(jié)構(gòu)倒置。依據(jù)檢測(cè)信號(hào)，采用偏振靈敏度計(jì)算方法，得到檢測(cè)系統(tǒng)的偏振靈敏度，再依據(jù)擴(kuò)束系統(tǒng)和縮束系統(tǒng)的透過(guò)率及穆勒矩陣，得到待檢測(cè)退偏器的偏振靈敏度。本發(fā)明提供的退偏器檢測(cè)裝置和方法，滿(mǎn)足了大口徑退偏器的檢測(cè)需要，可在寬波段下和高偏振靈敏性檢測(cè)要求條件下使用。