本發(fā)明一種新型晶體性能檢測電路,由待測晶體(X)、第一三極管(VT1)、第二三極管(VT2)、第一二極管(VD1)、第二二極管(VD2)、燈泡(D)、第一電容(C1)、第二電容(C2)、第三電容(C3)、第四電容(C4)組成;其中第一電容(C1)與第二電容(C2)串聯(lián)然后與待測晶體(X)并聯(lián);第一三極管(VT1)的基極與待測晶體(X)連接,其集電極與電源正極連接;第二三極管(VT2)的發(fā)射極與電源地連接,其集電極與燈泡(D)連接。該檢測電路是由兩只晶體管構成的晶體性能測試電路,可以檢測晶體能否振蕩。
聲明:
“一種新型晶體性能檢測電路” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)