一種材料彎曲性能檢測用測試裝置,包括工作臺、安裝架和主機;工作臺上的外殼內(nèi)分為兩個散熱倉和測試倉;隔板上均勻設(shè)有用于安裝半導體制冷片的安裝孔;安裝孔內(nèi)壁與半導體制冷片之間的空間處填充隔熱膠;散熱倉內(nèi)設(shè)有抽風裝置;測試倉的開口處設(shè)有密封門,測試倉在外殼的頂部的第一通孔處設(shè)有蓋板,測試倉內(nèi)設(shè)有溫度傳感器和夾具;工作臺上的安裝架設(shè)有用于朝向或者遠離外殼移動以對外殼內(nèi)試樣擠壓的升降擠壓裝置;主機上設(shè)有報警器、顯示屏和按鍵模塊,主機內(nèi)設(shè)有電路板以及設(shè)置在電路板上的微處理器和計時模塊。本發(fā)明還提出了上述材料彎曲性能檢測用測試裝置的使用方法。本發(fā)明能滿足對金屬材料在不同低溫環(huán)境下進行彎曲檢測的需求。
聲明:
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我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)