本發(fā)明公開了一種組件性能檢測方法及裝置,所述方法包括:采集終端中組件的運行狀態(tài)數(shù)據(jù);將所述終端中組件的運行狀態(tài)數(shù)據(jù)發(fā)送給服務(wù)器,以使服務(wù)器對所述終端中組件進(jìn)行性能檢測;獲取所述服務(wù)器的檢測結(jié)果。本發(fā)明將采集的終端中組件的運行狀態(tài)數(shù)據(jù)發(fā)送給服務(wù)器,通過服務(wù)器獲得對該組件的檢測結(jié)果,有效的解決用戶檢測其持有的終端時的諸多不便,從而提高了用戶體驗。
聲明:
“組件性能檢測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)