本申請(qǐng)公開(kāi)了一種斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法、裝置及設(shè)備,涉及電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,可以解決斷路器開(kāi)斷性能的檢測(cè)準(zhǔn)確度較低的問(wèn)題。包括:利用陣列傳感器檢測(cè)斷路器在分閘過(guò)程中產(chǎn)生的混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào);將混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)分離成單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào),確定單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間;根據(jù)單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間確定斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)結(jié)果。
聲明:
“斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法、裝置及設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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