本發(fā)明提供了一種用于CTP版材性能檢測(cè)的檢測(cè)樣板,包括矩形檢測(cè)基板,本發(fā)明的檢測(cè)樣板通過(guò)在同一塊檢測(cè)基板上的特定區(qū)域分別設(shè)有目測(cè)曝光控制區(qū)、網(wǎng)點(diǎn)檢測(cè)帶、實(shí)地檢測(cè)帶和空白檢測(cè)帶,在進(jìn)行性能檢測(cè)時(shí),因此,可以一次性同時(shí)檢測(cè)多個(gè)項(xiàng)目的性能,既提高了檢測(cè)速度,又減少了檢測(cè)基板的消耗,降低了成本,提高了效率。
聲明:
“一種用于CTP版材性能檢測(cè)的檢測(cè)樣板” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)