本發(fā)明公開了一種銣礦石中主次成分的X射線熒光光譜分析方法,具體流程如下:篩選含銣巖礦及土壤、水系沉積物的標準物質(zhì)設計標準曲線,選擇混合熔劑熔融制備標準樣品,確定儀器分析條件、校正基體及譜線重疊效應,建立標準曲線,以定值樣品驗證方法準確度及重現(xiàn)性,測定銣礦石中硅、鋁、鈣、鐵、鈉、鉀、鈦、銣;本發(fā)明選擇熔融制樣作為銣礦石X射線熒光光譜分析前處理手段,相比粉末壓片可消除粒度效應及一定程度上的基體效應,使用X射線熒光光譜分析銣礦石主次成分較之傳統(tǒng)化學、儀器分析方法省時省力;本發(fā)明具有檢出限低、線性范圍寬、分析速度快等優(yōu)點,單個礦石樣品平均處理時間不超過20?min。
聲明:
“銣礦石中主次成分的X射線熒光光譜分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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