本發(fā)明涉及超導(dǎo)磁體設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種超導(dǎo)磁體性能檢測設(shè)備及方法,超導(dǎo)磁體性能檢測設(shè)備包括:超導(dǎo)帶材檢測裝置,用于檢測超導(dǎo)帶材的載流能力和強(qiáng)度能力,且超導(dǎo)帶材檢測裝置包括彎曲裝置和拉伸機(jī);磁體檢測裝置,用于檢測超導(dǎo)磁體的氣隙中各位置磁場的強(qiáng)弱;真空特性檢測裝置,用于檢測杜瓦容器的真空特性;超導(dǎo)磁體的熱均勻性或?qū)嵝詸z測裝置,用于檢測超導(dǎo)磁體的熱均勻性或超導(dǎo)磁體的導(dǎo)熱性能;本發(fā)明通過磁體檢測裝置保證了本發(fā)明檢測設(shè)備的適用性,可對(duì)不同結(jié)構(gòu)的超導(dǎo)磁體的氣隙空間的磁場進(jìn)行檢測,結(jié)構(gòu)簡單;本發(fā)明設(shè)備應(yīng)用的超導(dǎo)磁體性能檢測方法,程序化了檢測過程,大大提高了檢測效率,且保證了本發(fā)明裝置的精確性。
聲明:
“一種超導(dǎo)磁體性能檢測設(shè)備及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)