本發(fā)明公開了一種檢波器的性能檢測(cè)方法及裝置。該方法包括:計(jì)算輸入到至少一個(gè)檢波器的參考信號(hào)的自譜密度;計(jì)算至少一個(gè)檢波器的輸出信號(hào)的自譜密度;計(jì)算參考信號(hào)和輸出信號(hào)的交叉譜密度;根據(jù)參考信號(hào)的自譜密度、輸出信號(hào)的自譜密度和交叉譜密度獲取檢測(cè)檢波器性能的一致性函數(shù)。本發(fā)明解決了現(xiàn)有檢波器的性能檢測(cè)方法參數(shù)比較復(fù)雜和計(jì)算量大的問題,一致性函數(shù)將多個(gè)待分析變量統(tǒng)一為一個(gè)變量,綜合分析,計(jì)算方法簡(jiǎn)單明了,減小了檢波器性能檢測(cè)的計(jì)算量,且在頻率域根據(jù)對(duì)參考信號(hào)和輸出信號(hào)每單位變化時(shí)相似程度的判斷,提升了檢波器性能檢測(cè)的直觀性和全面性。
聲明:
“一種檢波器的性能檢測(cè)方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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