一種固態(tài)硬盤(pán)性能檢測(cè)方法及其檢測(cè)系統(tǒng)，該固態(tài)硬盤(pán)性能檢測(cè)方法包括以下步驟：(1)安裝模塊安裝固態(tài)硬盤(pán)性能檢測(cè)系統(tǒng)；(2)連接模塊將被測(cè)試固態(tài)硬盤(pán)與所述固態(tài)硬盤(pán)性能檢測(cè)系統(tǒng)連接；(3)顯示模塊將該被測(cè)試固態(tài)硬盤(pán)讀取的硬盤(pán)信息進(jìn)行顯示；(4)檢測(cè)模塊對(duì)被測(cè)試固態(tài)硬盤(pán)進(jìn)行性能檢測(cè)，得出一檢測(cè)結(jié)果；(5)判斷模塊對(duì)該檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行判斷，并得出一判斷結(jié)果；(6)存儲(chǔ)模塊將該判斷結(jié)果進(jìn)行存儲(chǔ)；(7)關(guān)閉模塊將所述固態(tài)硬盤(pán)性能檢測(cè)系統(tǒng)關(guān)閉。利用本發(fā)明的固態(tài)硬盤(pán)性能檢測(cè)方法及其檢測(cè)系統(tǒng)，通過(guò)選擇不同方面的測(cè)試方法，可以實(shí)現(xiàn)快速判斷出固態(tài)硬盤(pán)在各種測(cè)試方式下的性能。