本發(fā)明提供一種地質(zhì)剖面真厚度直接測(cè)量裝置及測(cè)量方法,一種地質(zhì)剖面真厚度直接測(cè)量裝置,包括有刻度的測(cè)量桿,測(cè)量桿上部通過(guò)固定裝置安裝有測(cè)量系統(tǒng)及GPS定位系統(tǒng),測(cè)量系統(tǒng)包括用于測(cè)量地層傾角的儀器以及用于精準(zhǔn)定位的激光筆;測(cè)量地層傾角的儀器、激光筆分別平行裝配在測(cè)量桿兩側(cè)左側(cè),中心高度保持一致。本發(fā)明既能直接測(cè)量地層真厚度,既能適應(yīng)各種地形環(huán)境下簡(jiǎn)單方便地進(jìn)行剖面測(cè)量、剖面平移、地形和樣點(diǎn)記錄,又能避免測(cè)量參數(shù)多、測(cè)量不準(zhǔn)確、計(jì)算繁瑣等問(wèn)題,從而達(dá)到提高野外地質(zhì)工作效率和質(zhì)量,減少人員工作量的目的。
聲明:
“地質(zhì)剖面真厚度直接測(cè)量裝置及測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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