本發(fā)明屬于光學(xué)器件測量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及到一種多功能鈮酸鋰集成器件的光學(xué)性能測量方法。本方法包括：測量波導(dǎo)器件輸入保偏尾纖的長度；測量波導(dǎo)芯片的長度；測量波導(dǎo)器件輸出保偏尾纖的長度；對準(zhǔn)輸入/輸出尾纖慢軸與波導(dǎo)芯片的傳輸軸；獲取第一次分布式偏振串音測量結(jié)果；變換波導(dǎo)器件的光注入條件；獲取第二次分布式偏振串音測量結(jié)果；通過對數(shù)據(jù)的分析和計算，獲得波導(dǎo)器件光學(xué)參量。該方法可以準(zhǔn)確地獲得波導(dǎo)芯片的消光比和線性雙折射，還能夠同時獲得芯片波導(dǎo)輸入/輸出端尾纖的耦合串音、線性雙折射，輸入/輸出延長光纖焊點，以及波導(dǎo)芯片和連接尾纖內(nèi)部光學(xué)缺陷；降低了信號讀取與識別的難度，簡化了數(shù)據(jù)分析與處理的過程。