一種基于多日變點(diǎn)的被動(dòng)場(chǎng)源類三維電場(chǎng)勘探方法。本方法是為解決大范圍測(cè)區(qū)開(kāi)展被動(dòng)場(chǎng)源的電場(chǎng)勘探時(shí)所存在的場(chǎng)源空間變化所導(dǎo)致的勘探精度低的問(wèn)題,采用布置二維平面方式的多個(gè)日變點(diǎn),通過(guò)地質(zhì)因子校正系數(shù)、日變因子校正系數(shù)、日變校正系數(shù)等特定公式求取整個(gè)測(cè)區(qū)內(nèi)的由于場(chǎng)源空間變化所帶來(lái)的日變趨勢(shì),對(duì)平面內(nèi)所有記錄點(diǎn)所有時(shí)刻所有頻率的被動(dòng)場(chǎng)源電場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行日變校正,從而實(shí)現(xiàn)多日變點(diǎn)聯(lián)測(cè)的被動(dòng)場(chǎng)源類三維電法勘探。該方法能解決由于被動(dòng)場(chǎng)源的空間變化所帶來(lái)的電場(chǎng)數(shù)據(jù)畸變問(wèn)題,獲得類似于三維勘探成果,從而提高不同記錄點(diǎn)的電場(chǎng)數(shù)據(jù)的可比性,提高勘探精度,擴(kuò)大應(yīng)用范圍。
聲明:
“基于多日變點(diǎn)的被動(dòng)場(chǎng)源類三維電場(chǎng)勘探方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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