本發(fā)明公開了一種巖石結(jié)構(gòu)面粗糙度高精度測繪裝置及其測繪方法,其裝置包括巖石結(jié)構(gòu)面數(shù)據(jù)提取設(shè)備和圖像處理系統(tǒng);巖石結(jié)構(gòu)面數(shù)據(jù)提取設(shè)備利用激光位移傳感器,用于提取巖石結(jié)構(gòu)面的實時數(shù)據(jù);圖像處理系統(tǒng)用于對巖石結(jié)構(gòu)面數(shù)據(jù)提取設(shè)備提取的實時數(shù)據(jù)進行分析處理,得到巖石結(jié)構(gòu)面的粗糙度。本發(fā)明公開一種運用在地質(zhì)領(lǐng)域,能夠準(zhǔn)確獲取巖體結(jié)構(gòu)面起伏曲線的裝置。本發(fā)明裝置具有體積小、野外攜帶方便、處理速度快和操作簡易等優(yōu)勢。
聲明:
“巖石結(jié)構(gòu)面粗糙度高精度測繪裝置及其測繪方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)