本發(fā)明公開了一種頁巖非均質(zhì)性劃分與對比方法,該方法包括:1)高頻層序劃分與對比,為頁巖儲層的垂向非均質(zhì)性劃分建立等時地層對比格架;2)等時地層對比格架中宏觀非均質(zhì)性的研究,在等時地層對比格架中分析確立頁巖儲層不同高頻層序段的宏觀非均質(zhì)性的縱橫向變化特征;3)等時地層對比格架中微觀非均質(zhì)性的研究,確立不同高頻層序段頁巖儲層微觀非均質(zhì)性縱橫向變化特征;4)小層劃分與對比,在等時地層對比格架中,依據(jù)宏觀和微觀非均質(zhì)性研究成果中頁巖儲層非均質(zhì)性特征,進(jìn)行小層精細(xì)劃分。使用本發(fā)明方法選取縱橫向均質(zhì)性高的頁巖儲層作為持續(xù)穩(wěn)產(chǎn)式開
采選層,并為后期的頁巖氣的開發(fā)縱向選層、平面分區(qū)及開發(fā)技術(shù)政策提供地質(zhì)依據(jù)。
聲明:
“頁巖非均質(zhì)性劃分與對比方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)