本發(fā)明公開了一種用于解釋和評價水平井測井參數(shù)的方法,其包括:利用測井曲線建立地層模型;利用鉆井參數(shù)來計算和展現(xiàn)水平井的井眼軌跡,基于鉆井參數(shù)將測井曲線進行水平和垂向投影;將所建立的地層模型和地震剖面資料導入水平井中;通過分析測井響應特征劃分鉆遇地層界面,并以此為約束,分析測井響應特征是否發(fā)生明顯變化;調整地層模型與實際測井曲線進行匹配;模擬電阻率的響應特征。本發(fā)明采用以雙感應電阻率的正演模擬為基礎形成的水平井解釋評價技術,克服了傳統(tǒng)的單一的直井解釋方式缺陷。所形成的二維解釋方法更符合地質特征,能夠滿足勘探與開發(fā)對于水平井解釋新方法迫切需求,達到優(yōu)化壓裂選層目的。
聲明:
“用于解釋和評價水平井測井參數(shù)的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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