本公開涉及一種用于測試材料的方法和設(shè)備。更具體地但非排他性地,本發(fā)明涉及一種利用紅外光譜法測試材料的方法和設(shè)備。本發(fā)明還涉及對在利用紅外光譜法測試材料時使用的紅外光譜儀進行校正。本發(fā)明提供了一種對紅外光譜儀進行校正以用于對航空航天工業(yè)中的
復(fù)合材料進行測試的方法,該方法包括下述步驟,選擇具有影響在航空航天工業(yè)中使用的復(fù)合材料的可能性的物理特性的多個變量,為每個變量選擇多個值,以及將變量和值輸入到實驗?zāi)P偷脑O(shè)計中,由此獲得樣品測試矩陣。
聲明:
“用于測試材料的方法和設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)