本申請(qǐng)公開(kāi)了一種大斜度井地層真厚度計(jì)算方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)。該方法可以包括:確定目標(biāo)大斜度井的頂面靶點(diǎn)與底面靶點(diǎn)相對(duì)于井口的三維坐標(biāo);確定頂面靶點(diǎn)或底面靶點(diǎn)在構(gòu)造圖上的構(gòu)造投影點(diǎn)的海拔埋深;計(jì)算地層視傾角;根據(jù)地層視傾角,計(jì)算地層真厚度。本發(fā)明基于地層頂面構(gòu)造圖、地質(zhì)分層、X坐標(biāo)偏移距、Y坐標(biāo)偏移距計(jì)算大斜度井地層真厚度,有效規(guī)避計(jì)算地層真厚度必須用到地層真傾角這一參數(shù)的限制,快速計(jì)算地層真厚度,對(duì)大斜度開(kāi)發(fā)井區(qū)的儲(chǔ)量評(píng)價(jià)有重要作用。
聲明:
“大斜度井地層真厚度計(jì)算方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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