本發(fā)明涉及地質(zhì)勘探技術領域,具體涉及一種基于圖像處理的巖層分析方法。本發(fā)明旨在解決現(xiàn)有的利用鉆孔窺視圖對巖層進行分析的方法存在的只能利用鉆孔窺視圖對巖層進行粗略的分析和判斷,不能進行定量描述,且判斷巖層層數(shù)和各巖層界面位置的結果受主觀因素影響較大,精確性不高的問題。為此目的,本發(fā)明的本發(fā)明通過將獲取的鉆孔窺視圖轉(zhuǎn)化為灰度圖,并獲取了灰度圖中的巖層的不同深度位置對應的灰度值,進一步的還基于巖層的不同深度位置對應的灰度值形成的灰度值序列確定了巖層的層數(shù)、各巖層界面位置和評價各巖層均質(zhì)性。如此,通過利用灰度值定量的對巖層的鉆孔窺視圖進行分析,提高了對巖層分析的精確性。
聲明:
“基于圖像處理的巖層分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)