本發(fā)明涉及地質(zhì)勘探技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)一種物探儀及其剖面圖成像方法,以實(shí)現(xiàn)物探儀對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行快速的成圖處理,而擺脫第三方的諸多困擾。本發(fā)明方法包括:獲取待測(cè)區(qū)域地質(zhì)深度與頻率的轉(zhuǎn)換關(guān)系;確定目標(biāo)剖面圖中一組特定地質(zhì)深度值所一一對(duì)應(yīng)的頻率值;在用戶(hù)對(duì)任一測(cè)點(diǎn)進(jìn)行采樣時(shí),指示用戶(hù)依據(jù)該組特定地質(zhì)深度值所對(duì)應(yīng)的各頻率值逐一進(jìn)行該測(cè)點(diǎn)相對(duì)應(yīng)電場(chǎng)值的采樣;根據(jù)不同測(cè)點(diǎn)、不同頻率所對(duì)應(yīng)的不同電場(chǎng)值對(duì)采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行插值處理;根據(jù)所有電場(chǎng)值中的最大值和最小值對(duì)采樣和插值的各電場(chǎng)值進(jìn)行配色;根據(jù)采樣數(shù)據(jù)及其插值數(shù)據(jù)生成橫坐標(biāo)為采樣點(diǎn)、縱坐標(biāo)為地質(zhì)深度、不同顏色對(duì)應(yīng)不同電場(chǎng)值的目標(biāo)剖面圖。
聲明:
“物探儀及其剖面圖成像方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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