本發(fā)明公開了一種利用等離子體原位和實(shí)時(shí)診斷發(fā)光量子點(diǎn)衰退的方法。該方法的主要步驟為：將不同的反應(yīng)源氣體通入反應(yīng)腔，利用射頻信號(hào)產(chǎn)生輝光放電，提供活性反應(yīng)基團(tuán)，同時(shí)，利用等離子體輝光放電中的輝光來激發(fā)鈣鈦礦量子點(diǎn)，使其產(chǎn)生光發(fā)射，進(jìn)而利用光發(fā)射譜儀對(duì)鈣鈦礦量子點(diǎn)表面的光進(jìn)行聚焦，以原位和實(shí)時(shí)地對(duì)量子點(diǎn)的光發(fā)射進(jìn)行探測(cè)，通過記錄鈣鈦礦量子點(diǎn)光發(fā)射強(qiáng)度與不同反應(yīng)源氣體的等離子體處理時(shí)間的關(guān)系，獲取等離子體輝光放電中不同活性反應(yīng)基團(tuán)對(duì)量子點(diǎn)衰退的影響，進(jìn)而確定合適的反應(yīng)源氣體以用于在量子點(diǎn)表面反應(yīng)沉積介質(zhì)層，包覆量子點(diǎn)，改善量子點(diǎn)穩(wěn)定性。