本發(fā)明公開了一種基于測量非金屬晶體礦物電荷分布的環(huán)境溫度變化測定裝置和測定方法。它包括樣品腔、熱激活單元、光電轉(zhuǎn)換探測單元和分析單元;所述的樣品腔用于裝載樣品;所述的熱激活單元用于通過加熱熱激活樣品腔中的樣品使其釋放熱釋光;所述的光電轉(zhuǎn)換探測單元用于將樣品釋放的熱釋光光信號轉(zhuǎn)換成電信號;所述的分析單元用于讀取光電轉(zhuǎn)換探測單元的電信號,分析樣品的熱釋光發(fā)光特征,再與經(jīng)X射線、紫外光或者同位素放射源輻照的、已知受熱歷史的同種樣品的熱釋光發(fā)光特征進行對比,從而估計樣品的受熱溫度變化歷史。利用本發(fā)明的裝置,按照本發(fā)明的方法能以非現(xiàn)場方式測量樣品受熱歷史和溫度變化歷史情況。
聲明:
“基于測量非金屬晶體礦物電荷分布的環(huán)境溫度變化測定裝置和測定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)