本發(fā)明公開了一種礦物微區(qū)微結(jié)構(gòu)微成分分析方法,本發(fā)明利用掃描電鏡儀器對硅質(zhì)巖的礦物進行微形貌分析、微結(jié)構(gòu)分析和微組分分析。本發(fā)明方法測量結(jié)果精準,從微觀尺度的角度分析硅質(zhì)巖的礦物微區(qū)、微組構(gòu)和微成分。探索硅質(zhì)巖的成因、形成環(huán)境與過程,從而深化了對硅質(zhì)巖的認識。
聲明:
“礦物微區(qū)微結(jié)構(gòu)微成分分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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