本發(fā)明涉及礦熱爐冶煉生產(chǎn)工藝過程中關(guān)鍵參數(shù)測(cè)定裝置,具體為一種非接觸式磁場(chǎng)陣列傳感檢測(cè)系統(tǒng)及探頭距離設(shè)定方法。該系統(tǒng)包括微控制器MCU和PC機(jī),微控制器MCU和PC機(jī)連接,其特征在于還包括探頭陣列,探頭陣列包括豎向排列的若干3D探頭,每個(gè)3D探頭中都包括傳感器、信號(hào)放大器、低通濾波電路、真有效值轉(zhuǎn)換電路和子控制器,傳感器、信號(hào)放大器、低通濾波電路、真有效值轉(zhuǎn)換電路和子控制器依次連接,每個(gè)子控制器都和微控制器MCU連接。本發(fā)明提出一種非接觸式磁場(chǎng)陣列傳感檢測(cè)系統(tǒng),與單點(diǎn)3D檢測(cè)相比,磁場(chǎng)陣列檢測(cè)的實(shí)時(shí)性和精度均大幅提高,后期維護(hù)方便,有望對(duì)電極端部位置、電弧長(zhǎng)度及液面位置等參數(shù)予以有效的判斷,以滿足工程測(cè)量的需求。
聲明:
“非接觸式磁場(chǎng)陣列傳感檢測(cè)系統(tǒng)及探頭距離設(shè)定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)