本發(fā)明涉及波長(zhǎng)可選擇的光電探測(cè)器及系統(tǒng),主要涉及光電探測(cè)器技術(shù)領(lǐng)域。本申請(qǐng)?zhí)峁┑牟ㄩL(zhǎng)可選擇的光電探測(cè)器包括:基底、
鈣鈦礦層、熱膨脹材料、傳輸層、貴金屬層、第一電極和第二電極;由于該鈣鈦礦層的錐形孔中填充有熱膨脹材料,使得可以通過(guò)調(diào)節(jié)該探測(cè)器的測(cè)量溫度,改變?cè)撯}鈦礦層的錐形孔的橫截面積,即可以改變本申請(qǐng)?zhí)峁┑奶綔y(cè)器對(duì)共振波長(zhǎng)的選擇,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)該錐形孔的調(diào)控,改變?cè)撎綔y(cè)器的探測(cè)波長(zhǎng)范圍;另外,由于該錐形孔的存在,基于尖端效應(yīng),該鈣鈦礦層和該貴金屬層中可以聚集更多能量,以提高通過(guò)該探測(cè)器的光子傳輸速率,提高該探測(cè)器探測(cè)光子的靈敏度。
聲明:
“波長(zhǎng)可選擇的光電探測(cè)器及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)