本發(fā)明涉及一種礦物樣品分析的裝置,適用于在礦業(yè)勘探或開采過(guò)程中的現(xiàn)場(chǎng)礦物樣品分析,通過(guò)利用高光譜成像技術(shù)對(duì)樣品中的礦物類型進(jìn)行掃描,利用X射線熒光技術(shù)對(duì)樣品中的元素含量進(jìn)行分析,其特征在于:包括高光譜成像模塊c,樣品快速制備模塊b,X射線熒光分析模塊a,信息收集和分析模塊d;通過(guò)高光譜成像模塊c,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品圖像信息的獲取,并同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品礦物類型的辨識(shí)和分析。通過(guò)快速樣品制備模塊b,實(shí)現(xiàn)對(duì)礦物樣品的現(xiàn)場(chǎng)快速制樣,從而獲取用于X射線熒光分析的理想樣品。通過(guò)小型化X射線模塊a,實(shí)現(xiàn)對(duì)礦物樣品所含元素的含量分析。信息收集與分析模塊d可以實(shí)現(xiàn)高光譜圖像信息、礦物類型信息,元素含量信息及空間地理信息的綜合,從而給出全地質(zhì)學(xué)信息,實(shí)現(xiàn)礦物樣品的現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)編錄。
聲明:
“礦物分析裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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