本發(fā)明公開了一種用于選礦生產的礦漿品位測量與分析裝置,包括主控單元、測量單元、標定單元、準直單元和溫控單元,礦漿取樣設備就近安裝在攪拌桶內,數據分析處理上位軟件安裝在PC端工控機中;主控單元采用STM32F407ZET6系列作為微處理器;測量單元由X光管、高壓電源以及探測器構成;標定單元由檢測執(zhí)行機構及步進電機控制模塊構成;準直單元包括準直器和濾光片構成;溫控單元由半導體制冷片和微電腦溫控器構成;本發(fā)明采用以STM32為核心的嵌入式系統以及自帶高壓供電裝置的X光管和進口探測器,其測量精度和穩(wěn)定性以及核心控制主板的技術先進性可以得到提升,消除因核源的使用帶來的不利影響。
聲明:
“用于選礦生產的礦漿品位測量與分析裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)