2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器及其制備方法和應(yīng)用,探礦技術(shù)"> 2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器及其制備方法和應(yīng)用,本發(fā)明提供了一種PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器,包括硅基底以及設(shè)置于所述硅基底上的二氧化硅絕緣層,所述二氧化硅絕緣層上設(shè)有二硒化鉑層,所述二硒化鉑層上設(shè)有CsPbI3鈣鈦礦量子點(diǎn)層;所述二硒化鉑層上還設(shè)有對(duì)電極,所述對(duì)電極設(shè)于CsPbI3鈣鈦礦量子點(diǎn)層的兩側(cè)。本發(fā)明還提供了PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器的制備方法和應(yīng)用。本發(fā)明PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器利用二硒化鉑的高遷移率彌補(bǔ)鈣鈦礦量子點(diǎn)光電探測(cè)器響應(yīng)慢的缺陷,同時(shí)鈣鈦礦">
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