2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器及其制備方法和應(yīng)用,探礦技術(shù)"> 2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器及其制備方法和應(yīng)用,本發(fā)明提供了一種PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器,包括硅基底以及設(shè)置于所述硅基底上的二氧化硅絕緣層,所述二氧化硅絕緣層上設(shè)有二硒化鉑層,所述二硒化鉑層上設(shè)有CsPbI3鈣鈦礦量子點(diǎn)層;所述二硒化鉑層上還設(shè)有對(duì)電極,所述對(duì)電極設(shè)于CsPbI3鈣鈦礦量子點(diǎn)層的兩側(cè)。本發(fā)明還提供了PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器的制備方法和應(yīng)用。本發(fā)明PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器利用二硒化鉑的高遷移率彌補(bǔ)鈣鈦礦量子點(diǎn)光電探測(cè)器響應(yīng)慢的缺陷,同時(shí)鈣鈦礦">

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PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器及其制備方法和應(yīng)用

1031   編輯:管理員   來(lái)源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-02-28 00:50:06
本發(fā)明提供了一種PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器,包括硅基底以及設(shè)置于所述硅基底上的二氧化硅絕緣層,所述二氧化硅絕緣層上設(shè)有二硒化鉑層,所述二硒化鉑層上設(shè)有CsPbI3鈣鈦礦量子點(diǎn)層;所述二硒化鉑層上還設(shè)有對(duì)電極,所述對(duì)電極設(shè)于CsPbI3鈣鈦礦量子點(diǎn)層的兩側(cè)。本發(fā)明還提供了PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器的制備方法和應(yīng)用。本發(fā)明PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器利用二硒化鉑的高遷移率彌補(bǔ)鈣鈦礦量子點(diǎn)光電探測(cè)器響應(yīng)慢的缺陷,同時(shí)鈣鈦礦量子點(diǎn)的高光吸收效率也彌補(bǔ)了二硒化鉑光吸收率低的問(wèn)題,通過(guò)將二硒化鉑與鈣鈦礦量子點(diǎn)的互補(bǔ)作用,優(yōu)化了PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器的導(dǎo)電性和光響應(yīng)特性。
聲明:
“PtSe2/CsPbI3異質(zhì)結(jié)光電探測(cè)器及其制備方法和應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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