本發(fā)明涉及一種使用光纖,優(yōu)選地為涂覆金屬的光纖,測量冶金容器中的溫度的浸沒裝置。根據(jù)本發(fā)明的浸沒裝置包括進(jìn)給通道和進(jìn)給構(gòu)件,用于進(jìn)給光纖至一次性導(dǎo)管以及進(jìn)給一次性導(dǎo)管連同光纖至熔體。浸沒裝置包括用于監(jiān)測光纖一端相對于導(dǎo)管一端的位置的控制構(gòu)件。已發(fā)現(xiàn)所述相對位置決定了溫度測量的質(zhì)量。因此,監(jiān)測所述相對位置使得確定溫度測量的質(zhì)量、并因此改進(jìn)溫度測量變得有可能。
聲明:
“用于測量熔體溫度的光纖的浸沒裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)