本發(fā)明屬于過程參數(shù)檢測技術領域,涉及一種截面過程數(shù)據(jù)采集和信號處理技術?;诠I(yè)標準的多截面過程數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)主要采用了基于FPGA技術的電路設計和信號預處理方式,以及采用工業(yè)標準COMPACT PCI總線為數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的系統(tǒng)總線。系統(tǒng)主要由截面敏感電極陣列模塊、信號發(fā)生及模式選擇模塊、信號調理模塊、AD采集及信號預處理模塊、COMPACT PCI總線和CPU或計算機組成。該發(fā)明具有根據(jù)被測對象特性可重配置特點,可實現(xiàn)多截面、多類型過程數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的組合方式,具有高速、并行、多通道、數(shù)字化的實時數(shù)據(jù)采集功能??捎糜谶^程對象空間或截面具有不同特性介質分布或變化的過程監(jiān)測,可廣泛應用于石油、化工、冶金、制藥、食品、醫(yī)療監(jiān)測等領域。
聲明:
“基于工業(yè)標準的多截面過程數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)