本申請(qǐng)涉及地質(zhì)勘察的領(lǐng)域,尤其是涉及一種地質(zhì)勘察用輔助支架,其包括上支撐板、位于上支撐板下方的下支撐板以及垂直固接于上支撐板和下支撐板之間的若干主支撐桿,在上支撐板上開設(shè)有供取樣器穿過(guò)且與取樣器適配的第一讓位孔,在下支撐板上開設(shè)有供取樣器穿過(guò)且與取樣器適配的第二讓位孔,第一讓位孔和第二讓位孔軸線重合。本申請(qǐng)具有提升取樣器穩(wěn)定性的效果。
聲明:
“地質(zhì)勘察用輔助支架” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)