本發(fā)明公開一種用于使用鍶測量勘探地質(zhì)地層的方法和設(shè)備。使用井下測井儀測量地層中的鍶濃度。測井曲線可以被提供為深度或距離的函數(shù)。鍶測量可以與地層年代做相關(guān),以提供深度與絕對(duì)時(shí)間的相關(guān)性。在井眼中進(jìn)行的鍶的測量可以與通過被井眼穿過的地層的地震勘探獲得信息做相關(guān)。可以使單個(gè)地層的多個(gè)井眼內(nèi)的鍶的測量做相關(guān)。
聲明:
“用于使用鍶測量勘探地質(zhì)地層的方法和設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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