本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中采用多種設(shè)備或方法用于礦物成分檢測(cè)時(shí)操作較為繁瑣弊端,提供一種礦物成分檢測(cè)裝置,屬于礦物檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,包括裝置主體,裝置主體內(nèi)設(shè)有放料區(qū)、礦物表面檢測(cè)區(qū)、三維掃描區(qū)、鉆孔取樣區(qū)、碎料區(qū);放料區(qū)內(nèi)設(shè)有放料盤;所述礦物表面檢測(cè)區(qū)內(nèi)設(shè)有底座,底座上設(shè)有隔離罩,所述裝置主體上設(shè)有能驅(qū)動(dòng)隔離罩升降的升降機(jī)構(gòu),所述底座上設(shè)有
真空泵和電子探針;所述三維掃描區(qū)內(nèi)設(shè)有放料臺(tái)和X射線顯微CT設(shè)備。所述鉆孔取樣區(qū)內(nèi)設(shè)有礦物夾持裝置和鉆孔設(shè)備,所述碎料區(qū)內(nèi)設(shè)有碎料機(jī);所述裝置主體上還設(shè)有礦物夾取機(jī)構(gòu)和PLC控制器。本發(fā)明自動(dòng)化程度較高,能夠簡(jiǎn)化對(duì)礦物檢測(cè)時(shí)的人工操作流程,更為簡(jiǎn)便。
聲明:
“礦物成分檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)