本發(fā)明公開一種半導(dǎo)體元器件不良品的篩除方法,包括以下步驟:S0:根據(jù)品質(zhì)良好的玻封二極管的電性測試數(shù)值,設(shè)置參考電性數(shù)值;S1:將玻封二極管放入烘箱中烘烤;S2:將S1中烘烤完畢的玻封二極管放入水中;S3:放入浸泡籃,并完全浸入脫水劑中,上下提放,取出瀝去脫水劑;S4:吹去玻封二極管表面的液體,并進行電性測試;S5:根據(jù)S4的獲得測試結(jié)果,對比測試數(shù)值與參考數(shù)值,剔除測試過程中失效和變值的玻封二極管。本發(fā)明通過環(huán)境溫差在間隙中形成負(fù)壓吸入水分,配合電性測試實現(xiàn)對玻殼內(nèi)裂不良產(chǎn)品的快速篩除,該篩除方法操作簡單、易于控制,篩除效率高,同時,篩除方法不會損傷玻封二極管,保障了玻封二極管的品質(zhì)。
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“半導(dǎo)體元器件不良品的篩除方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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