本發(fā)明是揭露一種用以修復(fù)存儲(chǔ)器的方法與裝置,會(huì)從一測(cè)試機(jī)所傳送的一修復(fù)指令,是致使一正在進(jìn)行測(cè)試的集成電路將此集成電路中的一第一組存儲(chǔ)單元的失效位置,由此集成電路中的一第二組存儲(chǔ)單元所取代,而此修復(fù)指令是忽略此集成電路的第一組存儲(chǔ)單元的失效位置。
聲明:
“用以修復(fù)存儲(chǔ)器的方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)