本發(fā)明提供一種多應(yīng)力耦合作用下的電子產(chǎn)品壽命評(píng)估方法，其步驟如下：1，對(duì)各個(gè)單一環(huán)境應(yīng)力作用下的電子產(chǎn)品進(jìn)行壽命仿真，分別仿真各個(gè)單一環(huán)境應(yīng)力作用下電子產(chǎn)品的壽命；2，基于灰色關(guān)聯(lián)度的方法進(jìn)行各個(gè)環(huán)境應(yīng)力影響因素靈敏度分析，確定不同應(yīng)力與失效之間的靈敏度因子；3，建立基于靈敏度因子的非線性累積損傷模型4，根據(jù)本發(fā)明中提出的基于靈敏度因子的非線性累積損傷模型對(duì)多應(yīng)力耦合作用下電子產(chǎn)品的壽命進(jìn)行評(píng)估；通過以上步驟，本發(fā)明建立了基于靈敏度因子的非線性累積損傷模型，解決了傳統(tǒng)方法在評(píng)估多應(yīng)力下電子產(chǎn)品壽命時(shí)無(wú)法體現(xiàn)不同應(yīng)力耦合關(guān)系、無(wú)法表征不同應(yīng)力對(duì)失效敏感程度的問題。