設(shè)置了在使擾動(dòng)測(cè)試信號(hào)(TESTUBBS)和自刷新信號(hào)(/BBU)激活時(shí)使小電壓值檢測(cè)器(38)激活而且可使大電壓值檢測(cè)器(36)失效的切換電路(40)。因此,不僅在擾動(dòng)測(cè)試方式時(shí),而且在自刷新方式時(shí),由基板電壓發(fā)生電路(34)發(fā)生與小電壓值檢測(cè)器(38)的檢測(cè)電壓值相等的低的基板電壓(VBB)。結(jié)果,能夠防止因增設(shè)小電壓值檢測(cè)器(38)而導(dǎo)致的面積的增大。
聲明:
“半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)