公開了一種方法和裝置,其能夠現(xiàn)場檢驗(yàn)相控陣列天線系統(tǒng)的單個(gè)相控陣列模塊的健康度、校準(zhǔn)和完整性,并且在一定情況下,通過使用波束控制計(jì)算機(jī)使所述相控陣列天線系統(tǒng)能夠克服元件失效。本發(fā)明提供在天線陣列中或與其相鄰的測試探針或RF輻射器,用于提供和接收測試和校準(zhǔn)信號。
聲明:
“相控陣列天線的準(zhǔn)確自校準(zhǔn)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)