本發(fā)明公開(kāi)了一種考慮碳膜電阻器退化初值的可靠性評(píng)估方法,碳膜電阻器的可靠性分析領(lǐng)域,尤其針對(duì)碳膜電阻的偽失效壽命計(jì)算。將退化初始值的隨機(jī)性引入到傳統(tǒng)退化軌跡模型里面,并且計(jì)算樣本退化數(shù)據(jù)的擬合殘差平方和,制定擇優(yōu)準(zhǔn)則令擬合殘差平方和最小為最優(yōu)退化軌跡模型,隨后求出該退化軌跡模型的偽失效壽命,提升了后續(xù)可靠性分析的估計(jì)精度。
聲明:
“考慮碳膜電阻器退化初值的可靠性評(píng)估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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